Hanwa Electric Products

阪和電子工業(yè)株式會社創(chuàng)始于1966年,上世紀(jì)80年代開始自主研發(fā)半導(dǎo)體領(lǐng)域所使用的的相關(guān)測試設(shè)備。

(ESD: Electronic Static Discharge)靜電破壞測試機(jī)最初研發(fā)時只有256pin,現(xiàn)在根據(jù)客戶的需求甚至可以做到1024pin,滿足更高階的晶圓硅片測試需求。

此外,阪和電子還向解析裝置擴(kuò)展,研發(fā)出了具備多功能檢測、ESD保護(hù)電路回路等機(jī)能的TLP(Transmission Line Pulse)測試裝置。

隨著公司的發(fā)展,不光受到日本本土企業(yè)的青睞,更是在全球市場上,得到了海外客戶的一致認(rèn)可。

近年來,隨著靜電可視化需求的擴(kuò)大,阪和電子的靜電可視化設(shè)備也已經(jīng)登上了新的舞臺。

靜電破壞自動測定裝置

HED-G5000

設(shè)備名:

靜電破壞檢測機(jī)

說明:

HANWA新一代G5000系列ESD靜電破壞檢測機(jī)隆重登場。 搭載多Pin腳無繼電器的GNC模組(最高支持MAX2048pin),完全不受【寄生電容】的影響,實(shí)現(xiàn)高精度檢測。
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HED-S5000

設(shè)備名:

全自動靜電放電檢測設(shè)備

說明:

此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 (滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)可用于閂鎖測試,并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法
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HED-N5000

設(shè)備名:

多管腳高性能全自動靜電放電測試機(jī)

說明:

最大可進(jìn)行8個器件的測試。最大測試管腳數(shù)1024Pin 雖然有一定的限制,但是可以復(fù)數(shù)同時印加 是滿足日本、國際規(guī)格的高可靠性設(shè)備 (滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格) 可用于閂鎖測試,并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD印加法 也可通過DC測試判斷pass/fail,以及作為可添加選項(xiàng),可以利用向量來進(jìn)行功能測試
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HEC-5000

設(shè)備名:

桌上型ESD測試儀

說明:

測試操作簡單的便攜式靜電放電測試設(shè)備 兼容泄露測試功能,可單獨(dú)利用本設(shè)備進(jìn)行ESD的破壞判斷
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Wafer ESD試験器

HED-W5000

設(shè)備名:

全自動 Wafer ESD測試機(jī)

說明:

從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer,可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后,可根據(jù)漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關(guān)聯(lián)性的TLP測試設(shè)備進(jìn)行組合測試 對ESD測試中發(fā)生問題的器件,能有效取得保護(hù)電路中的工作參數(shù) 是滿足日本、國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備。(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格)
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CDM實(shí)驗(yàn)器

HED-C5000

設(shè)備名:

(不同電位物質(zhì)時)接觸破壞性檢測設(shè)備

說明:

此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 (滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)可通過交換放電電路組 件支持日本國內(nèi)及國際的測試規(guī)格 可測量器件的各個端子的容量,測試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式
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靜電氣可視化監(jiān)視器

HSK-5008L

設(shè)備名:

手持式靜電成像系統(tǒng)

說明:

裝有8個線性傳感器,能夠輕松地確認(rèn)到靜電的帶電狀態(tài) 與PC連接,可以使用專用轉(zhuǎn)件對靜電帶電狀態(tài)進(jìn)行確認(rèn)
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HSK-V5000B

設(shè)備名:

在線安裝型條狀靜電成像系統(tǒng)

說明:

可安裝于測試對象物的附近,實(shí)時監(jiān)測以面為單位的帶電量,并且可以瞬間撲捉到大面積的帶電情況比如,對于薄膜、液晶屏、制紙等制造領(lǐng),可根據(jù)客戶需求選擇測量范圍、傳感器數(shù)量
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